1肖特基势垒高度 11 零偏压肖特基势垒高度 肖特基势垒高度( Schottky barrier height , SBH) 是 重要的半导体器件参数, 也是一个与多变量有关的 函数。
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我们的数据表明,肖特基势垒高度(SBHS)在空间上不均匀。的分布局部有效SBHS在外延接口是仿照由单一高斯的总和,代表SBH蔓延在大多数的接触,和两个半高斯代表高和低障碍...
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研究发现GO界面层的作用主要有三个:一是抑制载流子的界面复合;二是提高了肖特基势垒高度(SBH),进而提高了电池的开路电压(Voc);三是降低了电荷转移电阻,提高了填充因子(FF)。
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Secondly, the Schottky barrier height and series resistance underroom temperatureare analyzed, and their relative formulas are obtained.
其次,研究了室温下金属碳化硅接触的肖特基势垒高度和串联电阻,给出了它们的计算公式。
参考来源 - 碳化硅肖特基势垒二极管静态特性的研究·2,447,543篇论文数据,部分数据来源于NoteExpress
在分析4hsic肖特基势垒二极管正向电流热电子发射理论的基础上,计算了肖特基势垒高度?
Based on the thermionic emission theory of the current density of4h-sic schottky barrier diodes under the forward bias the calculations for the schottky barrier height?
在近表面单晶层上作成了性能良好的肖特基接触,其势垒高度约为0.7V。
On the near surface monocrystalline GaAs layer, a better Schottky contact with a barrier height of 0.7V has also been fabricated.
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