...易发生失效，其失效率随着时间变化逐渐递减， 为一时间的严格递减函数λe(t)，此一时期一般称为早夭期(Infant Mortality Period)； 当时间超过某一时刻tu之后，有一段相当长的时间内( tu≦t≦tw)，失效往往是偶然发 生的，物品的失效率大致不变，为一常数值λ...
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...形之分类与统计分析 故障情形之分类与统计分析 • 故障情形之分类： 故障率之浴缸曲线(Bath-Tub Curve) – 早夭期(Early Failure ) ：操作时间短便故 障。CMOS之闭锁复象则处于制造商之早 夭期便会侦测出来。
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