Kelvin probe force microscope
应用该模子盘算了OFET器件的耗尽层电势降和界面注入电场强度，成果与开尔文探针力显微镜(KPFM)的测试成果很好的吻合；模子较好地拟合了基于P3HT无机场效应晶体管器件的输入特征曲线；研讨了器件迁徙率和阈值电压受寄失效应的...
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【Key words】非接触式原子力显微镜（NC-AFM）,有机铁电材料,开尔文探针力显微镜（KFM）,π-共轭分子,电荷转移,表面电位 【文献来源】Applied Surface Science
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