VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受，亦成为EDA工具的基本特征。该书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。
... 大规模集成电路测试 LSI testing 大规模集成电路测试系统 LSI testing system 大规模集成电路型逻辑电路技术 LSI-CML circuit technology ...
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超大规模集成电路测试 VLSI testing
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
为了降低开发超大规模集成电路器件的测试程序的费用，缩短开发周期，给出了一种设计和开发测试系统仿真器的基本思想、结构组成及其功能。
In order to reduce the cost of developing VLSI test program and shorten developing cycle, an idea of a simulator design of test system and gives the simulators structure and function is put up.
下一代的大规模集成电路的测试探头要求使用在铝电极上的低接触力的联接方法。
The contact method with low contact force on Al electrodes is required for test probing of LSI for the next generation.
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