关键词:通用测试集;可测性设计;或一符合展开;单固定故障 [gap=1284]Key words: universal test set; design for testing; OR-Coincidence expansion; single stuck-at faults
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doc 关键词: 片上网络 ;单固定故障 ;伪穷举测试 ;划分测试 [gap=1067]Keywords: networks on chip; stuck-at port fault; pseudo-exhaustive test; division test ...
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...、失效和缺陷的关系 第12页 ·故障建模 第12-16页 ·单固定故障（Single Stuck-At fault, SSA） 第12-13页 ·单固定故障的等价、故障压缩 第13-14页 ·故障支配和检测点定理 ...
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专用集成电路使用问题讨论 - docin.com豆丁网 ，称 为固定 故障（s-a-0）。 实际电路系统中可能不止存在一个逻辑 故障，为不使问题复杂化，采用单固定故障（single stuck fault， SSF）模型可以方便故障分析。 实践表明，对于被测电路，当针对 单固定故障产生的测试向量集的故障覆盖率超过
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采用单固定故障 single stuck fault ; SSF
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