最新-国际电子商情网 ary Scan），处理器测试控制器（Processor-controlled test, PCT）以及嵌入式自我测试（Built-In Self Test, BIST）。将多种测试技术放置在一个统一的测试环境去执行，跟以前传统的方式比较，可以大幅的改进设计验证的结果并
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