二次离子质谱仪(Secondary ion mass spectrometer,SIMS)作为高分辨、高精度的表面分析仪器,可以在锆石样品上数微米的范围内获取精确的同位素及化学组成信息 下载全文 更多同类文献...
基于60个网页-相关网页
... 火花源质谱计;spark source mass spectrometer 二次离子质谱仪;secondary ion mass spectrograph 飞行时间质谱计;time-of-flight mass spectrometer ...
基于10个网页-相关网页
...工业、有机化工-论文中国 ce Microscope,AFM),X射线衍射仪(X-ray Differaction,XRD),二次离子质谱仪(Secondary Ion Mass Spectra,SIMS),光电子能谱(X-ray Photon Spectrascope,XPS)和霍尔效应测试仪等方法对薄..
基于2个网页-相关网页
小型二次离子质谱仪 Compact SIMS Station
二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。 在传统的SIMS实验中，高能一次离子束，如Ga, Cs, 或 Ar离子在超真空条件下聚焦于固体样品表面 （如左图所示）。一次离子束与样品相互作用，材料表面溅射和解吸出二次离子。这些二次离子随后被提取到质量分析器中，从而呈现具有分析表面特征的质谱图，同时产生元素、同位素及分子的信息，其灵敏度范围可达ppm至ppb量级。在该领域中，有三种基础类型的SIMS仪器最为常用，每一种质谱使用不同的质量分析器。
应用推荐