...模集成电路（VLSI）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法-临界路径跟踪测试产生（CPTTG）。本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面，介绍CPTTG的主要思想和关键技术。
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临界路径跟踪测试产生
Critical path tracking test generation
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