动态二次离子质谱(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry)
二次离子质谱分为两种，一种动态二次离子质谱(DSIMS)，如CAMECA公司生产的IMS-xf系列，一种静态二次离子质谱（S-SIMS），如ULVAC-PHI公司生产的nano-TOF系列。
基于17个网页-相关网页
合金的表面，其特征在于，用X-射线光电子能谱（XPS）和动态二次离子质谱法（DSIMS）。获得信息的组成随深度的变化与XPS非破坏性在角分辨的模式（ARXPS）中，和破坏性的氩离子蚀刻，以及与DSIMS。
基于8个网页-相关网页
... - 信号引出 (Signal Tapeout) - 磁质谱仪 (DSIMS) - 全反射X射线荧光谱仪 (TXRF) ...
基于1个网页-相关网页
·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress