中文模板 Key words: test set; set cover greedy algorithm; derandomization method; redundant test set [gap=266]关键词: 测试集问题;集合覆盖贪心算法;去随机方法;冗余测试集问题
基于6个网页-相关网页
·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动