...试结果达到微安(uA)或毫安(mA)级,而已知的良品却很小,对应比较下,可大致确认此被测件已呈老化(DEGENERATION)或处于击穿(DEGRAKE)的状态,但在功能上还是能工作的不良品,此种元件工作一久,温升加大,漏电流更大直至烧毁为止．因此半导体的漏电流大小是最能影响其...
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