上述系统能实现如下测量模式：多功能可控环境扫描探针显微镜 *Contact AFM（接触式原子力模式） *DFM (动态力模式，包括非接触式和间歇接触式原子力模式) *Phase Mode（相位模式） *FFM (摩擦力模式) *MFM (磁力模式):具有Tra...
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技术参数：2.1 此系统应具有以下工作模式：contact AFM(接触模式)，Tapping mode（轻敲模式），Lift mode（抬起模式），Phase imaging(相位成像模式)，力调制模式，LFM（横向力显微镜）， STM（扫...
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原子力显微镜可以分为接触式（Contact AFM）、非接触式（Non-Contact AFM）和间 隙接触式（Intermittent-Contact AFM）三种。
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non-contact AFM 原子力显微镜 ; 非接触式
Contact Mode AFM 接触模式 ; 接触式原子力显微镜 ; 接触模式的afm
Contact AFM in Liquid 液体中接触式AFM测量
Non-Contact Mode AFM 非接触式原子力显微镜 ; 非接触成像模式
Micro cantilever probe of atomic force microscope (AFM) is a typical micro mechanical component, which is under a coupling deformation during the contact scanning process.
原子力显微镜（AFM）的微探针系统是典型的微机械构件，它在接触扫描过程处于耦合变形状态。
The film and its surface morphologies of amino-polysiloxane were observed and studied by means of atomic force probe microscopy(AFM) and contact angle measurement instrument.
应用原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对乙酸酐改性氨基聚硅氧烷的成膜性及膜形态进行了研究。
Numerical simulations of micro scanning forces and micro topography are presented to investigate the influence of the coupling deformation of AFM probe under the AFM contact mode.
采用数值模拟方法探究恒力模式下探针耦合变形对微观扫描力信号、微观形貌信号的影响。
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