被寄存器错误锁存的SET被 称为单事件翻转（single event upset，SEU）。SET和 SEU统称为软错误，在现代深亚微米CMOS集成电 路制造工艺中，由于翻转一个器件需要的电...
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诱发软错误的原因可以分为2种:在SRAM、锁存器、触发器中发生的称为单事件翻转(singleevent upset,SEU);在组合逻辑中发生的称为单事件瞬态(single event transient,SET).
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