晶粒边界 百科内容来自于: 百度百科

无定形晶粒边界

ZnO压敏电阻的晶粒涂料边界从结晶的Bi-O变化到无定形相,最终变化为ZnO-ZnO晶粒没有任何第二相。这种变化看来决定于晶粒边界的总厚度。结晶相和无定形相存在于Bi-O相宽度15~50nm处的点所以,采用高分辨率的HREM沿ZnO晶粒边界从三角结点到无第二相的点处追踪观测了Bi—相的形态。Bi偏析区范围还采用具有能量弥散X衍射光谱的场致发射型TEM进行了精确分析。

无定形晶粒边界详解

沿ZnO晶粒边界的Bi连续性也利用EDS绘图技术证实试样为商用ZnO压敏电阻,含0.5%Bi2O3和少量其他过渡金属氧化物添加物,按传统的ZnO压敏陶瓷工艺混合制备,在1150℃下烧结5h,按—75℃/h速度冷却,在550℃下热处理,将烧结的试样中心切割,经离子减薄用于TEM分析采用两种透射电子显微镜,用于观测晶粒边界附近的微观结构,以及FE—TEM-2010F。乳胶漆为了达到分析目的,前者可以分辨空间为0.17nm,后者可分辨空间为0.19nm,后者还具有EDS点分析的功能及空间分辨小于1nm绘图分析功能。结晶相仅存在无定形相的一侧,该相的另一侧直接与ZnO晶粒接触。这些结果证明,在宽度小于4nm的晶粒边界,Bi-O结晶相是不存在的。在该观察到ZnO晶粒间无第二相,既不结晶的,也无定形的在晶界边界宽度小于4nm的所有晶粒边界观察到的均是无定形的。表明:1.晶粒相是无定形的。
Bi偏析于晶粒边界内而在离ZnO晶粒表面0.5~1.0nm一侧是不存在的;3. Zn存在于晶界无定型层中。X光谱探测出Bi、O和Zn的特征线谱,Zn的特征X光被Bi的特征X光荧光激发是肯定的两个ZnO晶粒彼此直接接触的结晶面,这表明在晶粒边界不存在晶界相,用EDS分析了化学成分,这三个点位于与ZnO晶粒边界的垂直的间距离1mm处。过氯乙烯漆在ZnO-ZnO晶粒边界的第二点在直径1mm的区域内测得Bi占9%,剩余的是Zn。
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- 来自原声例句
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