Ram Chillarege and Kothanda Ram Prasad, "Test and Development Process Retrospective -- A Case Study Using ODC Triggers."
RamChillarege和Kothanda RamPrasad，“测试与开发过程的回顾―――使用ODC触发的个例研究”
The test can be used for either on-line RAM board testing or RAM board general testing.
该方法既可用于微处理机内存扩充板的在线测试，也可用于RAM 板的一般测试。
RAM is used widely in electrical equipment, so RAM testing is a key part for built-in test and functional test.
随机存储器在电子装备中广泛使用，对其进行有效测试是电子装备自测试与生产功能测试的主要内容。
RAM is used widely in electrical equipment, so RAM testing is a key part for built-in test and functional test.
随机存储器在电子装备中广泛使用，对其进行有效测试是电子装备自测试与生产功能测试的主要内容。
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